Cód QR
Maidir Linne
Táirgí
Glaoigh orainn


Facs
+86-579-87223657

Ríomhphost

Seoladh
Bóthar Wangda, Sráid Ziyang, Contae Wuyi, Cathair Jinhua, Cúige Zhejiang, an tSín
A sciath chomhdhúile sileacain (sciath SiC)Is ciseal dlúth SiC é a thaisceadh ar dhromchla comhpháirte, de ghnáth graifít ard-íonachta, chun comhéadan próisis atá resistant go ceimiceach agus cobhsaí go teirmeach a chruthú. I dtrealamh leathsheoltóra, is é an sciath a tháirgtear go coitiantasil-leagan ceimiceach gaile (CVD).
Tagann a fheidhmíocht ó chóras comhcheangailte nasubstráit graifíte, ciseal CVD SiC, céimseata comhpháirteanna agus timpeallacht imoibreora.
Úsáidtear graifít go forleathan le haghaidh páirteanna te-chrios leathsheoltóra toisc go bhfuil sé machinable agus cobhsaí go teirmeach. Mar sin féin, is féidir le graifít lom freagairt le gáis phróisis, ocsaídiú, neamhíonachtaí a scaoileadh nó cáithníní a ghiniúint de réir mar a dhíghrádaíonn an dromchla.
Athraíonn CVD SiC an riocht dromchla sin. Déantar carbíd sileacain a thaisceadh mar chiseal dlúth polycrystalline thar an gcomhlacht graifít machined, rud a chruthaíonn bacainn idir graifít agus timpeallacht an phróisis.
Próiseas Gáis / Wafer → Dromchla Dlúth CVD SiC → Comhéadan SiC/Graphite → Corp Graifít Ard-íonachta
Soláthraíonn Graphite an comhlacht struchtúrach, mais teirmeach agus machinability; Soláthraíonn SiC an dromchla atá os comhair an phróisis. Caithfidh an comhéadan maireachtáil ar thimthriallta sil-leagain, fuaraithe agus imoibreora arís agus arís eile.
Déanann SGL Carbon cur síos ar bhratuithe SiC tráchtála mar chiseal CVD dlúth, caitheamh-resistant agus creimthe atá curtha i dtaisce ar graifít iseastatach, le feidhmchláir a chuimsíonn fás criostail leathsheoltóra, eipitaxy sileacain/Sic agusMOCVD.
Sin é an fáth gur chóir páirteanna leathsheoltóra brataithe SiC a mheas marcórais ábhar innealtóireachta, seachas go simplí mar "graifít le sciath."
![]()
Comparáid
Grafít CVD-Brataithe SiC
Comhpháirt Soladach SiC
Struchtúr Bunúsach
Foshraith graifít le ciseal dromchla SiC
Ábhar SiC ar fud an chomhlachta comhpháirte
Déantúsaíocht
Meaisínithe graifít + sciath CVD
Sintéiriú, nascáil imoibriúcháin nó CVD, ag brath ar an ngrád
Iompar Teirmeach
Córas ábhar ilchodach
Struchtúr monolithic ag brath ar ghrád
Príomhcheist Dearaidh
Greamaitheacht sciath agus sláine comhéadan
Airíonna ábhar mórchóir agus sláine struchtúrach
Feidhmchláir tipiciúla
Suceptors eiteaxy agus iompróirí sliseog
Seomra ceirmeach leathsheoltóra roghnaithe agus páirteanna foirnéise
Bunús Roghnúcháin
Cumhdach, graifít, céimseata agus próiseas
Grád SiC, modh déantúsaíochta agus comhoiriúnacht próisis
Is é an cuspóir ná buntáistí déantúsaíochta agus teirmeacha graifít a chomhcheangal le dromchla a oireann níos fearr do choinníollacha éilitheacha leathsheoltóra.
Is féidir susceptor graifíte nó iompróir wafer a mheaisíniú go dtí lamháltais daingean agus pócaí casta. Cosnaíonn CVD SiC ansin an dromchla a nochtar do gháis phróiseála agus do ghlanadh. Tugann an meascán seo aghaidh ar cheithre mhórábhar imní.
Rialú éillithe.Cuidíonn dromchla dlúth ardíonachta an graifít bhunúsach a leithlisiú ón timpeallacht sliseog.
Marthanacht ceimiceach.Úsáideann Epitaxy agus MOCVD réamhtheachtaithe ionsaitheach agus ceimic ghlantacháin; Feabhsaíonn SiC friotaíocht i gcomparáid le graifít nochta.
Rialú cáithníní.Is féidir le scoilteanna, feannadh nó díghrádú dromchla a bheith ina bhfoinsí cáithníní, agus mar sin baineann sláine an bhrataithe go díreach le glaineacht an phróisis.
Atrialltacht theirmeach.Is cuid de réimse teirmeach an imoibreora iad súdairí agus iompróirí. Ní mór go bhfanfadh a gcéimseata agus a riocht dromchla seasmhach ionas go bhfanfaidh an teocht sliseog in-athdhéanta.
Aithníonn Mersen teocht ard, ardfholús, réamhtheachtaithe gásacha ionsaitheach, rialú éillithe agus friotaíocht d'aigéid ghlantacháin mar phríomhriachtanais oibriúcháin do threalamh grafite a úsáidtear in epitaxy agus MOCVD. Leagann sé béim freisin ar chomhoiriúnacht graifíte/SiC CTE a bheith tábhachtach maidir le sláine an bhrataithe.
Míníonn sé seo cén fáth nach féidir cáilíocht an bhrataithe a scaradh ócáilíocht graifít, cruinneas tríthoiseach nó coinníollacha imoibreora. D'fhéadfadh go mbeadh drochfheidhmíocht próisis fós ag ciseal SiC atá sármhaith go ceimiceach ar chomhpháirt atá saobhadh nó deartha go dona.
![]()
Is é slabhra déantúsaíochta tipiciúil:
Roghnú Graifít → Meaisínithe Beachtais → Íonú → Ullmhú Dromchla → Taiscí CVD SiC → Cigireacht
Roghnaítear an graifít le haghaidh íonachta, microstructure agus iompar teirmeach, ansin meaisínithe roimh an sciath mar go mbíonn tionchar ag maoile, doimhneacht póca agus céimseata imeall ar thoisí deiridh agus aonfhoirmeacht sciath.
Le linn CVD, téann réamhtheachtaithe gásacha isteach in imoibreoir ardteochta. Sroicheann speicis imoibríocha dromchla na graifíte, áit a núiclíonn SiC agus ina bhfásann sé ina shraith leanúnach.
Tuairiscíonn SGL Carbon go poiblí teochtaí tipiciúla sil-leagan SiC de thart ar1,200–1,300°Cas a phróiseas brataithe tráchtála. Tuairiscíonn sé β-SiC, nó ciúbach 3C-SiC, do chóras brataithe amháin.
Léiríonn taighde a rinneadh le déanaí ar chumhdaitheoirí graifíte atá brataithe le CVD-SiC go bhfuil an struchtúr brataithe ag brath go mór ar choinníollacha próiseála.
2026Tuarascálacha Eolaíochtastaidéar imscrúdaíodh sil-leagan ó1,100 go 1,350°C, mar aon le hathruithe ar bhrú agus ar chóimheas H₂/MTS. Thug na taighdeoirí faoi deara athruithe suntasacha ar mhoirfeolaíocht an bhrataithe, ar gharbháis, ar stoichiometry agus ar chruas, rud a léirigh an gaol idir:
Paraiméadair CVD → Micreastruchtúr SiC → Airíonna Brataithe → Feidhmíocht na Comhpháirte.
Is é an ceacht tábhachtach innealtóireachta ná sinNí ábhar seasta amháin é “CVD SiC”..
Sonraíocht mar:
“Sciath 100 μm SiC”
cur síos ar tiús amháin.
Ní shainíonn sé go hiomlán:
l íonacht ;
l porosity ;
l struchtúr gráin;
l garbh an dromchla;
l aonfhoirmeacht sciath;
l caighdeán comhéadan;
l strus iarmharach.
Maidir le trealamh leathsheoltóra, d'fhéadfadh na fachtóirí sin a bheith chomh tábhachtach le tiús ainmniúil.
Fadhb
Cúis Féideartha
Meastóireacht Molta
Cnagadh
Strus teirmeach, lochtanna sciath
Stair theirmeach-timthriall agus iniúchadh micreascópach
Delamination
Laige comhéadan, neamhréir strus
Scrúdú trasghearrtha
Poll pionnaí
Lochtanna núicléis nó clúdach
SEM nó iniúchadh dromchla cuí
Tiús Éagothrom
Éifeachtaí sreabhadh gáis nó céimseata
Mapáil tiús
Giniúint Cháithníní
Damáiste sciath nó taiscí dromchla
Anailís ar fhoinse cáithníní agus dromchla
![]()
Maidir le húsáid leathsheoltóra, is iad na hairíonna is úsáidí iad siúd a bhaineann le rialú éillithe, cobhsaíocht próisis agus saolré na gcomhpháirteanna.
|
Maoin |
Tábhacht Innealtóireachta |
|
Íonachta |
Cuireann sé teorainn le héilliú ar dhromchla an phróisis |
|
Dlús / Porosity |
Rialaíonn sé sláine bhacainn |
|
Tiús |
Bíonn tionchar aige ar chosaint, ar thoisí agus ar strus |
|
Aonfhoirmeacht Tiús |
Ábhair trasna pócaí, imill agus céimseata casta |
|
Roughness Dromchla |
Tionchar aige ar thaiscí, ar ghlanadh agus ar cháithníní |
|
CTE |
Rialaíonn sé neamhréir teirmeach le graifít |
|
Cruas |
Tacaíonn friotaíocht caitheamh |
|
Struchtúr Gráin |
Léiríonn sé coinníollacha sil-leagan |
|
Friotaíocht Cheimiceach |
Cosnaíonn graifít ó gháis imoibríocha |
|
Cobhsaíocht Teirmeach |
Tacaíonn sé le rothaíocht ardteochta arís agus arís eile |
Mar thagarmharc tráchtála poiblí, tuairiscíonn SGL Carbon le haghaidh sciath SiC amháin dlús toirte de thart ar3.2 g / cm³, cruas40 GPa, leathnú teirmeach de4.3 × 10^-6 K^-1ó 100-600 ° C agus tiús sciath tipiciúil de100 μm. Is samplaí iad na luachanna seo seachas sonraíochtaí uilíocha leathsheoltóra.
Tá aird ar leith tuillte ag dhá pharaiméadar:tiús sciath agus CTE.
1. Níl sciath SiC níos tiubh go huathoibríoch níos fearr.
Féadfaidh tiús breise bacainn chosanta níos mó a sholáthar, ach féadfaidh sé toisí na gcomhpháirteanna a athrú agus strus iarmharach carntha a mhéadú. Éiríonn sé seo tábhachtach do susceptors agusiompróirí waferáit a bhfuil doimhneacht póca, maoile agus céimseata imeall ríthábhachtach don phróiseas.
2. Tá meaitseáil CTE chomh tábhachtach céanna.
Déantar SiC a thaisceadh ag teocht ard agus ansin fuaraíonn sé mar aon leis an tsubstráit graifíte. Má tá SiC agus graifít ag leathnú agus ag conradh go difriúil, forbraíonn strus meicniúil in aice leis an gcomhéadan.
Is é cosán teipe simplithe ná:
Mímheaitseáil CTE → Strus Iarmharach → Microcrack → Iomadú Crack → Delamination → Cáithníní / Graifít Nochta
Míníonn an mheicníocht seo cén fáth nach féidir teip brataithe a réiteach i gcónaí ach trí thiús a mhéadú.
2026Ceirmeacht Idirnáisiúntarinne staidéar imscrúdú sonrach ar SiC a thaisceadh ar graifít ag 1,260°C, 1,280°C agus 1,320°C agus fuarthas amach go raibh tionchar ag teocht an tsíleáil ar mhicreastruchtúr agus ar ghreamaitheacht idir-éadan.
Dá bhrí sin, ba cheart cáilíocht an bhrataithe a mheas de réir an mheascáin seo a leanas:
Íonacht + Micreastruchtúr + Aonfhoirmeacht + Ionracas Comhéadain + Céimseata
seachas tiús amháin.
Is iad na feidhmchláir is láidre ná comhpháirteanna a bhfuil aghaidh acu ar ardteocht, ar cheimic imoibríoch agus ar dhianriachtanais leibhéal wafer.
1. Sileacan Epitaxy
Tacaíonn súdairí graifíte SiC-brataithe le sliseog agus iad ag glacadh páirte in aistriú teasa. Is féidir le maoile, céimseata póca, aonfhoirmeacht sciath agus riocht dromchla tionchar a imirt ar theocht sliseog agus aonfhoirmeacht epitaxial.
Mar sin tá an sciath mar chuid de chóras teirmeach níos leithne:
Téitheoir / Foinse Fuinnimh → Suomhadh → Teorainn Theirmeach Wafer → Teocht Wafer → Fás Eipiteaiseach
2. Silicon Carbide Epitaxy
Cuireann SiC epitaxy ceanglais an-éilitheacha ar ábhair teirmeach-réimse. Ní mór do chumhdaitheoirí, fáinní agus comhpháirteanna gaolmhara cobhsaíocht cheimiceach, éilliú íseal agus comhsheasmhacht tríthoiseach a choinneáil trí oibriú ardteochta arís agus arís eile.
3. GaN agus LED MOCVD
Feidhmíonn iompróirí sliseog MOCVD agus ardáin satailíte i dtimpeallachtaí atá saibhir ó thaobh réamhtheachtaithe ina mbíonn tionchar ag dáileadh teochta iompróra ar choinníollacha fáis trasna na sliseog.
D’fhéadfadh athruithe ar chéimseata iompróra nó ar riocht an dromchla cur le héagsúlachtaí sna:
l teocht wafer;
l ráta fáis;
l tiús scannáin;
l comhdhéanamh;
l aonfhoirmeacht wafer-go-wafer.
Aithníonn Mersen go sonrach graifít ard-íonachta SiC-brataithe, iompar teirmeach aonfhoirmeach, friotaíocht le gáis ionsaitheach agus marthanacht i gcoinne glanadh ceimiceach in-situ mar riachtanais thábhachtacha d'iarratais epitaxy.
4. Próisis Ardteochta Eile
Féadfaidh RTP/RTA, CVD, ALD agus comhpháirteanna eile a bhaineann le réimse teirmeach úsáid a bhaint as graifít SiC-brataithe freisin nuair a thugann teocht, ceimic, riosca éillithe agus céimseata údar leis.
Ba chóir go dtosódh an roghnúchán leis animoibreoir agus próiseas, ní sonraíocht sciath cineálach.
Sainmhínigh:
l múnla próisis agus imoibreora;
l méid wafer;
l teocht oibriúcháin;
l gáis a phróiseáil agus a ghlanadh;
l líníocht chomhpháirt;
l riachtanas graifíte;
l toisí criticiúla agus maoile;
l tiús sciath;
l garbh an dromchla;
l riachtanais iniúchta.
Cuireann an RFQ is úsáidí ceist lárnach amháin:
Cad is gá don chomhpháirt seo a dhéanamh taobh istigh den imoibreoir?
Is féidir an sciath SiC a innealtóireacht ansin timpeall an chuspóra iarbhír seachas paraiméadar ábhair iargúlta.
Maidir le epitaxy agus MOCVD, ní hé an sprioc amháin an sciath is faide buan. Is comhpháirt é atá in ann tacú le:
Teocht Cobhsaí Wafer + Éilliú Íseal + Giniúint Cháithníneach Íseal + Fás In-Athdhéanta + Saol Seirbhíse Intuartha
6. Ceisteanna Coitianta
Cruthaíonn sé dromchla próiseas ard-íonachta, ceimiceach resistant agus ag an am céanna coinnítear buntáistí machinability agus teirmeach an chomhlachta graifíte.
Ligeann CVD do SiC fás go díreach ar dhromchlaí casta graifíte agus cuireann sé smacht ar struchtúr brataithe, ar thiús agus ar aonfhoirmeacht nuair a dhéantar innealtóireacht cheart ar an bpróiseas taisce.
Ní mór tiús a chothromú le strus iarmharach, caoinfhulaingt tríthoiseach, céimseata comhpháirteanna agus coinníollacha seirbhíse.
I measc na rannchuiditheoirí coitianta tá éagothroime graifíte/SiC CTE, strus iarmharach, lochtanna comhéadan, coinníollacha sil-leagan míchuí agus timthriall teirmeach arís agus arís eile.
Cuir an líníocht, múnla imoibreora, próiseas, méid wafer, teocht oibriúcháin, próiseas agus gáis glantacháin ar fáil, ceanglas graifíte, sonraíocht sciath, lamháltais chriticiúil, critéir iniúchta agus cainníocht.
An Teastaíonn Comhpháirt Graifíte Saincheaptha CVD SiC-Brataithe?
Soláthraíonn VeTek Semiconductor comhpháirteanna graifíte atá brataithe le SiC le haghaidh epitaxy leathsheoltóra agus feidhmeanna próiseála ardteochta gaolmhara.
Comhroinn do mhúnla imoibreora, líníochtaí comhpháirteanna, riachtanais graifíte, sonraíochtaí brataithe, coinníollacha oibriúcháin agus critéir iniúchta chun réiteach oiriúnach a phlé.
Iarr Comhairliúchán Teicniúil| Cuir isteach Do Líníocht
Déan iniúchadh ar ár raon táirgí Cumhdach Silicon Carbide.
1. SGL Carbóin. Bratuithe SIGRAFINE® SiC.sonraí teicniúla agus faisnéis a chur i bhfeidhm le haghaidh bratuithe sic CVD ar graifít Iseastatach....
2. Mersen. Trealamh Próisis Leathsheoltóra - Graifít Ultra-íon atá Brataithe le Carbide Sileacain.Faisnéis theicniúil d'fheidhmchláir epitaxy agus MOCVD.
3. Huo, Y., Qin, S., Chen, Y., et al. “Staidéar ar an gcomhghaolmhaireacht próisis-struchtúr-maoine i bratuithe CVD-SiC ar fhoshraitheanna graifíte.”Tuarascálacha Eolaíochta, Iml. 16, Airteagal 4150, 2026.
4. Ma, Q., et al. “Greamaitheacht idir-éadan bratuithe CVD-SiC ar fhoshraitheanna graifíte: Ról na teochta i micristruchtúr agus airíonna meicniúla.”Ceirmeacht Idirnáisiúnta, Iml. 52, Eagrán 3, 2026, lgh. 3711–3718.
+86-579-87223657
Bóthar Wangda, Sráid Ziyang, Contae Wuyi, Cathair Jinhua, Cúige Zhejiang, an tSín
Cóipcheart © 2024 Ábhar Nua WuYi TianYao Tech.Co., Ltd. Gach ceart ar cosaint.
Links | Sitemap | RSS | XML | Beartas Príobháideachta |