Cód QR
Maidir Linne
Táirgí
Glaoigh orainn


Facs
+86-579-87223657

Ríomhphost

Seoladh
Bóthar Wangda, Sráid Ziyang, Contae Wuyi, Cathair Jinhua, Cúige Zhejiang, an tSín
|
Tionscal |
Déantúsaíocht leathsheoltóra (glacadh le cáilíocht comhpháirte crios-te epitaxy/eitseála) |
|
Próiseas |
GaN MOCVD,SiC epitaxy, glacadh isteach agus ar-uirlis na gcodanna te-chrios gaolmhar |
|
Réiteach |
Creat glactha inchainníochtaithe le haghaidh aonfhoirmeacht tiús, cáithníní, íonachta agus riocht dromchla |
|
Seirbhísí |
Tuarascálacha GDMS/ICP-OES, sonraí tiús agus aonfhoirmeachta, fíorú samplaí, tacaíocht anailíse teip |
|
Torthaí |
• Sprioc aonfhoirmeachta tiús tipiciúil: laistigh de ± 5% • Tagairt rialaithe cáithníní: ≤0.1/cm² ordú (ag brath ar an bpróiseas) • Is féidir íonacht sciath a bheith faoi bhun 5 ppm; sroicheann roinnt baisceanna 99.99995% • Méadracht ag teacht isteach agus tuairisc a thabhairt ar mhíreanna is féidir a sheiceáil ar sheachadadh |
Tar éis an t-ábhar a roghnú, is é an rud a chinneann feidhmíocht uirlis go minic ná méadracht inchainníochtaithe mar aonfhoirmeacht tiús, leibhéal na gcáithníní agus íonacht. Eagraíonn an t-alt seo na príomhghnéithe cáilíochta de bhratú CVD SiC maidir le glacadh agus úsáid, ag cuidiú leis an aistriú ó “mheaitseálann an tsonraíocht” go “is féidir an tuarascáil a sheiceáil agus is féidir riosca a réamh-mheas.
Príomhchonclúid:Athraíonn tiús sciath neamh-éide friotaíocht teirmeach áitiúil agus riocht dromchla, rud a chuireann isteach ar aonfhoirmeacht teochta agus dáileadh tiús scannáin epitaxial. Is sprioc tipiciúil innealtóireachta é aonfhoirmeacht tiús a rialú laistigh de ± 5%, agus pointí tomhais curtha i gcriosanna ríthábhachtacha na coda - ní hamháin ag féachaint ar an meánluach.
I gcás codanna te-chrios mar susceptors agus fáinní preheat, tá an sciath ina bhac ceimiceach agus mar chuid den chosán teirmeach. Faoin tiús ainmniúil céanna, is féidir le dialltaí móra idir imeall agus lár, nó idir grooves agus limistéir chomhréidh, éagsúlacht aonfhoirmeachta a mhéadú ar imeall na fuinneoige próisis.
• Tiús ainmniúil agus raon caoinfhulaingt (meaitseála leis an bpróiseas agus leis an struchtúr páirteach)
• Aonfhoirmeacht ilphointí (moltar lárionad clúdaigh, imeall agus criosanna trasdula struchtúracha)
• Cibé an bhfuil na difríochtaí idir aghaidheanna criticiúla agus neamhchriticiúil laistigh de raon inghlactha
Príomhchonclúid:Ní féidir stop a chur le rialú cáithníní ag “cáithníní ísle.” Ba cheart go dtiocfaidh sé i dtír ar ghlaineacht dromchla, ar dhlús agus ar riosca púdraithe in úsáid. Is minic a úsáideann cleachtas innealtóireachta cáithníní in aghaidh an achair aonaid, garbh an dromchla agus sláine an bhrataithe mar mhíreanna seiceála ag teacht isteach agus roimh úsáid uirlisí. Féadfaidh spriocleibhéal na gcáithníní tagairt a dhéanamh don ordú ≤0.1/cm² agus é a theannú nó a mhaolú in aghaidh an phróisis ghléasra.
Tá eiteacsaí agus eitseáil íogair do cháithníní. Má tá an sciath scagach, micrea-scáinte, nó go háitiúil ró-tiubh/tanaí, is mó an seans go dtiocfaidh sé chun bheith ina fhoinse cáithníní tar éis roinnt úsáide. Tá sé níos éifeachtaí riocht an dromchla a shoiléiriú nuair a bhíonn glactha isteach ag teacht isteach ná milleán a shannadh tar éis fadhbanna a bheith le feiceáil.
• Dealramh: dath aonfhoirmeach, gan aon chlaiseanna soiléire, blisters nó delamination
• Cibé an bhfuil roughness dromchla (Ra) laistigh den raon aontaithe
• Cibé an gcuirtear ráitis cháithníní nó glaineachta ar fáil (de réir modhanna tástála a chomhaontaítear go frithpháirteach)
Príomhchonclúid:Moltar tuairiscí íonachta GDMS/ICP-OES, sonraí tiús agus aonfhoirmeachta, cuma agus toisí criticiúla a chóireáil mar phacáiste caighdeánach isteach. Is féidir íonacht sciath a bheith faoi bhun 5 ppm; sroicheann roinnt baisceanna 99.99995%. Ba chóir go mbeadh tuairiscí mapáilte chuig luchtanna agus páirteanna sonracha le haghaidh inrianaitheachta.
Tá liosta glactha inrite níos úsáidí ná “sonraíocht a chomhlíonann an tsonraíocht” ó bhéal. Is féidir na míreanna seo a leanas a bhearradh de réir riachtanais an ghléasra agus iad a scríobh isteach i ndoiciméid cheannaigh agus IQC.
|
Seiceáil Mír |
Cur síos |
|
Léarscáiliú lot agus tuairisce |
Meaitseálann uimhir na tuairisce crannchur fisiciúil; inrianaithe |
|
Íonacht (GDMS/ICP-OES) |
Neamhíonachtaí criticiúla laistigh de theorainneacha comhaontaithe; is féidir íonacht sciath a bheith faoi bhun 5 ppm |
|
Tiús agus aonfhoirmeacht |
Tiús ainmniúil le chéile; sprioc aonfhoirmeachta tipiciúil laistigh de ±5% |
|
Cuma agus dromchla |
Dath aonfhoirmeach, gan aon lochtanna infheicthe; Ra laistigh de raon aontaithe |
|
Toisí criticiúla |
Líníocht mheaitseála nó lamháltais spártha OEM chun feistiú uirlisí a chinntiú |
Sula n-úsáidfear ar-uirlis, moltar fós fíorú samplach ar aonfhoirmeacht teochta agus ar fheidhmíocht na gcáithníní. Ní ráthaíonn tuarascáil a rith an fheidhmíocht is fearr taobh istigh den fhuinneog próisis, ach is féidir leis an seans go scaoilfear go leor lochtach don uirlis a laghdú go mór.
Príomhchonclúid:Scríobh aonfhoirmeacht thiús, cáithníní/dromchla agus íonacht i gclásail inrite glactha, agus iarr ar thuarascálacha mapáil duine le duine le luchtanna. Nuair a tharlaíonn aimhrialtachtaí, déan comparáid idir uirlisí eile ar an bpíosa céanna ar dtús agus athruithe próisis, ansin déan cinneadh ar cheart an réiteach ábhartha a uasghrádú.
Seicheamh molta:
1. Sa tsonraíocht cheannaigh, sainigh caoinfhulaingt tiús, sprioc aonfhoirmeachta, modh agus teorainneacha íonachta, agus ceanglais cuma.
2. Ag teacht isteach, seiceáil an tuairisc i gcoinne lot fisiciúil; toisí criticiúla samplacha agus cuma.
3. Tar éis go leor nua nó athrú próisis, reáchtáil bhaisc bheag ar an uirlis chun cáithníní agus aonfhoirmeacht a sheiceáil.
4. Nuair a bhíonn an saolré nó na cáithníní neamhghnácha, fiosraigh sonraí brataithe agus coinníollacha foirnéise/próisis ag an am céanna; seachain sannadh aonchúiseach.
Príomhchonclúid:Ní leor ach an tiús meán a thuairisciú. Ardaíonn tanú nó ramhrú áitiúil ar imeall agus criosanna trasdula struchtúracha go díreach riosca réimse na gcáithníní agus teirmeacha. Ní mór aonfhoirmeacht ilphointí agus láithreacha tomhais a shonrú nuair a ghlactar leis — ní hamháin an dtagann meán an diosca laistigh den lamháltas ainmniúil.
Nóta Innealtóireachta:
Tar éis aSiC epitaxythug an líne sonraíocht nua isteachCVD SiC brataithesusceptor, sheiceáil IQC tuarascáil an tsoláthraí: bhí tiús ainmniúil agus tiús meán-diosca laistigh den lamháltas comhaontaithe, ritheadh íonacht GDMS, agus níor léirigh an chuma aimhrialtacht soiléir, agus mar sin scaoileadh an luchtóg chuig an uirlis. Tar éis thart ar fiche rith, léirigh roinnt tráidirí arís agus arís eile cáithníní ag ardú agus tanú scannán áitiúil sa réigiún comhfhreagrach ar imeall sliseog, agus d’fheidhmigh tráidirí eile ón gcuid céanna de ghnáth. Bhí amhras ar dháileadh gáis an phróisis ar dtús, ach nuair a aistríodh an seomra céanna ar ais go dtí na sean-tráidirí sonraíochta, tháinig laghdú soiléir ar shaincheist an chiumhais, ag tagairt don luchtóg nua féin. Léirigh tomhas tiús ilphointí ar chodanna teipthe i gcomparáid le gnáthchodanna an luchta céanna: bhí an meán diosca go deimhin go sonrach, ach go córasach bhí pointí gar-imeall an fháinne seachtrach thart ar 8%–12% tanaí, cheana féin thar sprioc aonfhoirmeachta inmheánach an ghléasra de ±5%; rinne na criosanna tanaí forluí go mór ar na criosanna ardcháithníní. Rianaíodh bunchúis nach raibh an ráta sil-leagan sna grooves agus an fáinne seachtrach á chalabrú go hiomlán don struchtúr sin; níor chuir an tuarascáil amach ach an meán, gan an dáileadh ilphointí comhaontaithe. Scríobh an líne ansin aonfhoirmeacht ilphointí "lár + imeall + trasdul groove" i seiceálacha éigeantacha ag teacht isteach agus d'éiligh tuarascálacha go gcuirfí léarscáil pointí tomhais san áireamh. Tar éis don soláthraí an fhuinneog próisis fáinne seachtrach a choigeartú ar na lotaí ina dhiaidh sin, tháinig cáithníní imeall agus éagsúlacht tiús scannáin ar ais go dtí na leibhéil stairiúla. Léiríonn an cás seo: ní chiallaíonn meán sa spec aonfhoirmeacht sa spec. I gcás sochtaithe atá íogair ó thaobh teirmeach de, féadann glacadh gan tiús ilphointí agus sonraí suímh lochtanna áitiúla a ligean isteach ar an líne. Tá sé níos éifeachtaí leagan amach an phointe tomhais a scríobh agus sprioc aonfhoirmeachta ar nós ±5% isteach sa tsonraíocht ná a mhaíomh ina dhiaidh sin an raibh “an tuarascáil inghlactha”.
1. An caighdeán éigeantach é aonfhoirmeacht tiús ±5%?
Is comhsprioc innealtóireachta é, ní caighdeán dlíthiúil ar leith. Is féidir raon níos déine nó beagán níos leithne a aontú leis an soláthraí bunaithe ar struchtúr páirteach agus íogaireacht próisis. Is é an rud is tábhachtaí ná clúdach pointí tomhais agus inrianaitheacht tuairiscí.
2. An mbaineann ≤0.1/cm² le gach próiseas?
Is ord tagartha méadaíochta é. Ba cheart go leanfadh na critéir chríochnaitheacha riachtanais seomra, próisis agus toraidh an ghléasra, agus ba cheart go mbeadh modh tástála agus rialacha breithiúnais scríofa sa tsonraíocht.
3. An leor tuairisc íonachta ina haonar?
Ba chóir go mbeadh íonacht, tiús/aonfhoirmeacht agus cuma ar a laghad (mar aon le méadracht dromchla comhaontaithe) ar fáil le chéile; bíonn tionchar ag meaitseáil tríthoiseach ar úsáid uirlisí freisin.
4. Cad a tharlaíonn má théann an tuarascáil ar aghaidh ach go bhfuil cáithníní ar uirlis fós ard?
Déan comparáid idir uirlisí eile ar an bpáirc chéanna ar dtús, athruithe próisis/cothabhála le déanaí agus stádas glantacháin, ansin déan measúnú ar cibé an bhfuil gá leis an réiteach brataithe nó an fhuinneog próisis a choigeartú. Déan cros-seiceáil leis na leathanaigh bhraisle roghnú-cinneadh agus trealamh-comhoiriúnacht más gá.
5. Cén tacaíocht a bhaineann le cáilíocht is féidir le VeTek a sholáthar?
Is féidir GDMS/ICP-OES agus tuarascálacha anailíse comhchosúla, sonraí tiús agus aonfhoirmeachta, fíorú samplaí, agus cumarsáid theicniúil ar aimhrialtachtaí (i mBéarla san áireamh).
Tar éis an t-ábhar ceart a roghnú, socraíonn aonfhoirmeacht tiús, rialú cáithníní agus íonacht an féidir le crannchur áirithe dul isteach go cobhsaí i bhfuinneog an phróisis. Is é an trí cinn seo a scríobh isteach i gclásail inseiceála glactha agus a áiteamh go ndéantar tuairiscí a mhapáil go lotaí an bealach is dírí chun riosca ar an uirlis a laghdú.
Má theastaíonn méadracht glactha uait le haghaidh cuid ar leith nó má tá cabhair uait le tuarascálacha a léirmhíniú, tá fáilte romhat dul i dteagmháil le foireann theicniúil VeTek. Is féidir leis an Dr Xiao agus an fhoireann innealtóireachta cabhrú le ailíniú sonraíochta, fíorú samplaí agus anailís ar aimhrialtacht.
Le haghaidh loighic roghnúcháin, féach:VETEK | Conas Cumhdach SiC, Cumhdach TaC nó SiC Soladach a Roghnú de réir Coinníollacha Próisis; le haghaidh an chreata iomlán, féach leathanach an cholúinTeorainneacha Feidhmíochta CVD SiC, TaC agus Solid SiC i bPróisis Epitaxy agus Eitseála.
Príomhthagairtí agus Foinsí Sonraí
1. Innealtóireacht inmheánach leathsheoltóra VeTek agus cleachtas glactha custaiméirí.
2. Cur síos méadrach ar íonacht, aonfhoirmeacht tiús agus rialú na gcáithníní i Lámhleabhar Innealtóireachta Roghnaithe Ábhair Inchaite Cumhdaithe CVD le haghaidh Trealamh Leathsheoltóra Epitaxy & Eitseála.
3. Táirge láithreán gréasáin oifigiúil VeTek agus ábhair theicniúla: https://www.veteksemicon.com/silicon-carbide-coating
Nóta: Is tagairtí innealtóireachta tipiciúla iad figiúirí aonfhoirmeachta, cáithníní agus íonachta sa téacs; leanann na luachanna iarbhír sonraíochtaí conartha agus torthaí tomhaiste.
Údar: Foireann Innealtóireachta Teicniúil Leathsheoltóra VeTek (críochnaithe faoi threoir an Dr Xiao)
Le haghaidh tuilleadh plé teicniúil nó measúnú samplach, déan teagmháil linn tríd an láithreán gréasáin oifigiúil.
+86-579-87223657
Bóthar Wangda, Sráid Ziyang, Contae Wuyi, Cathair Jinhua, Cúige Zhejiang, an tSín
Cóipcheart © 2024 Ábhar Nua WuYi TianYao Tech.Co., Ltd. Gach ceart ar cosaint.
Links | Sitemap | RSS | XML | Beartas Príobháideachta |